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SEM掃描電鏡對樣品的7個要求介紹

日期:2023-05-11 09:07:03 瀏覽次數:166

掃描電鏡制樣是一項非常重要的工作,制備不良的樣品會嚴重影響SEM掃描電鏡觀察的效果和分析結果。以下是掃描電鏡制樣對樣品的一些基本要求:

平整度:樣品表面應盡可能平整,避免出現明顯的凸起或凹陷,這有助于電子束的掃描和定位。

掃描電鏡.jpg

干燥度:樣品應干燥透徹,否則水分會干擾電子束的穿透和反射,影響掃描電鏡觀察效果。

穩定性:樣品應具有較好的穩定性,以避免SEM掃描電鏡觀察過程中出現樣品的變形、脫落或其它異常情況。

導電性:樣品應具有一定的導電性,以便電子束可以穿透和反射,形成清晰的掃描電鏡圖像。

厚度:樣品應制備成較薄的薄片或薄膜,以便電子束可以穿透并掃描到樣品表面,獲得高分辨率的SEM掃描電鏡圖像。

純度:樣品應具有較高的純度,以避免掃描電鏡觀察過程中出現其它雜質或物質的干擾。