掃描電鏡，簡稱SEM,是一種重要的掃描探針顯微鏡。它使用聚焦的電子束來掃描樣品表面，通過光致發射、光致吸收和二次電子發射等現象，獲取關于樣品表面形貌、成分和結構的信息，是材料科學、生物學、環境科學等領域的重要研究工具。

盡管掃描電鏡在科學研究中發揮了巨大的作用，但我們也需要理解其使用的局限性。首先，SEM主要依賴于樣品的導電性和表面形貌來產生圖像，因此對于非導電或表面形貌復雜的樣品，如生物組織或非晶體材料，可能無法提供準確的信息。此外，SEM也不能像透射電子顯微鏡那樣，獲得材料整個截面的圖像。*后，SEM的工作環境對樣品溫度和濕度有較高的要求，這可能限制了其在某些特殊環境下的應用。

隨著科技的發展，我們正在努力克服這些挑戰，例如利用新的照明技術改善圖像質量和對比度，或者開發新型的SEM探針和樣品處理方法?？偟膩碚f，掃描電鏡作為一種強大的工具，正在幫助我們更深入地理解微觀世界，并為各種領域的研究提供了寶貴的信息。