掃描電鏡之所以需要防震動，是因為其工作原理涉及利用聚焦的高能電子束掃描樣品，通過光束與物質間的相互作用激發物理信息，進而對物質微觀形貌進行表征。這一過程中，任何微小的震動都可能干擾電子束的聚焦和掃描，導致圖像質量下降或分析結果異常。具體來說，震動可能導致電子束在樣品表面的掃描軌跡不穩定，使得成像出現模糊、失真或偏移等問題。

此外，SEM掃描電鏡作為一種精密的分析儀器，其性能和穩定性受到多種因素的影響。除了震動外，地線的影響和噪音干擾也是常見的干擾因素。地線的影響可能導致電干擾，使得圖像出現毛刺；而超出儀器允許強度的噪音，無論是低頻還是高頻，都可能對電子顯微鏡的電子鏡筒產生擾動，改變電子束位置，影響圖像質量。

因此，在使用掃描電鏡時，需要采取一系列防震動措施，如使用隔震臺、減震器等設備，確保儀器穩定運行，從而獲得準確、清晰的微觀形貌圖像和分析結果。同時，還需要注意地線連接和噪音控制，以消除其他潛在的干擾因素。